产品简介

IMS易姆斯X射线源测厚仪 100-225KV IMS 易姆斯测厚仪是由德国 IMS Messsysteme GmbH 公司生产的高精度测厚设备，该公司成立于 1980 年，在同位素测量、X 射线测量和光学测量等领域具有丰富的经验。以下是一些常见的 IMS 测厚仪型号及其特点

• IMS易姆斯X射线源测厚仪 100-225KV
  IMS5400-TH 白光干涉仪：采用白光干涉技术，可实现纳米级精确厚度测量和多层厚度测量。测量范围广，气隙测量（折射率～1）为 50µm 至 2.1 毫米，玻璃厚度测量（折射率～1.5）为 35µm 至 1.4 毫米。具有高速测量速率，最高可达 6kHz，且测量不受距离影响，即使是移动物体也能获得稳定的纳米级精确厚度值。其传感器坚固紧凑，配有高度灵活的光纤电缆，电缆长度可达 10 米，控制器可通过 DIN 导轨安装在控制柜中，可通过 web 界面轻松配置，无需安装额外软件。

  IMS5200-TH 白光干涉仪：专为快速、高精度在线测量而设计，可测量 1 至 100µm 的涂层厚度，精度达纳米级，线性度 <±100nm，还可对多达五层的薄层进行多峰测量。测量速率可在 100Hz 至 24kHz 之间连续调整。传感器和控制器在工厂进行协调和校准，具有紧凑坚固的设计，工作范围为 ±2mm，可轻松集成到狭窄的生产线中。控制器防护等级为 IP40，传感器防护等级为 IP65，适用于工业环境，也可在洁净室和真空等特殊环境中使用。

XR SSMC 多通道厚度轮廓测量系统：采用 X 射线测量技术，可连续实时测量带材厚度和厚度横截面轮廓。其 C 型框架配备一系列分段，每个分段由上梁中的辐射源和下梁中与宽度相关数量的探测器组成，形成测量通道。该系统可测量的厚度范围可达 3000mm，还可测量宽度和中心线偏差，计算楔形和凸度值，具有测量速度快、稳定性好等特点，适用于热轧厂等场景。

IMS易姆斯X射线源测厚仪 100-225KV